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    Titel:

    Characterization of sputter-deposited multilayers of Ni and Zr with APFIM/TAP

    Beteiligte:

    Al-Kassab, T. (Autor:in) / Macht, M.-P. (Autor:in) / Naundorf, V. (Autor:in) / Wollenberger, H. (Autor:in) / Chambreland, S. (Autor:in) / Danoix, F. (Autor:in) / Blavette, D. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 94/95 ; 306-312

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1996

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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