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NiTi thin film characterization by Rutherford backscattering spectrometry

Goldberg, F. / Knystautas, E. J.

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Titel:

NiTi thin film characterization by Rutherford backscattering spectrometry

Beteiligte:

Goldberg, F. (Autor:in) / Knystautas, E. J. (Autor:in) / Balkanski, M. / Kamimura, H. / Mahajan, S.

Erschienen in:

Solid-State Materials for Advanced Technology ; 185-190

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 40

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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