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    Titel:

    Investigation of the Morphology of Porous Silicon by Rutherford Backscattering Spectrometry

    Beteiligte:

    Szilagyi, E. (Autor:in) / Hajnal, Z. (Autor:in) / Paszti, F. (Autor:in) / Buiu, O. (Autor:in) / Craciun, G. (Autor:in) / Cobianu, C. (Autor:in) / Savaniu, C. (Autor:in) / Vazsonyi, E. (Autor:in) / Balogh, A. G. / Walter, G.

    Erschienen in:

    Materials Science Applications of Ion Beam Techniques ; 373-376

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 248/249

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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