Thickness dependence of crystalline orientation in YBa~2Cu~3O~x thin films grown by metalorganic chemical vapour deposition: Fid-Bau Portal

Thickness dependence of crystalline orientation in YBa~2Cu~3O~x thin films grown by metalorganic chemical vapour deposition

Kang, W. N. / Kim, Y. H. / Kim, C. H. / Jang, J. W. / Kim, I. T. / Choi, S. S. / Hahn, T. S.

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Titel:

Thickness dependence of crystalline orientation in YBa~2Cu~3O~x thin films grown by metalorganic chemical vapour deposition

Beteiligte:

Kang, W. N. (Autor:in) / Kim, Y. H. (Autor:in) / Kim, C. H. (Autor:in) / Jang, J. W. (Autor:in) / Kim, I. T. (Autor:in) / Choi, S. S. (Autor:in) / Hahn, T. S. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 15 ; 1898-1901

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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