Photoluminescence and transmission electron microscopy investigation of SiGe quantum wires grown on patterned Si substrates: Fid-Bau Portal

Photoluminescence and transmission electron microscopy investigation of SiGe quantum wires grown on patterned Si substrates

Hartmann, A. / Dieker, C. / Bangert, U. / Loo, R. / Vescan, L. / Lueth, H.

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Titel:

Photoluminescence and transmission electron microscopy investigation of SiGe quantum wires grown on patterned Si substrates

Beteiligte:

Hartmann, A. (Autor:in) / Dieker, C. (Autor:in) / Bangert, U. (Autor:in) / Loo, R. (Autor:in) / Vescan, L. (Autor:in) / Lueth, H. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 104/105 ; 502-509

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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