Modeling electrostatic scanning force microscopy of semiconductors: Fid-Bau Portal

Modeling electrostatic scanning force microscopy of semiconductors

Donolato, C.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Modeling electrostatic scanning force microscopy of semiconductors

Donolato, C.

Modeling electrostatic scanning force microscopy of semiconductors

Donolato, C.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Modeling electrostatic scanning force microscopy of semiconductors

Beteiligte:

Donolato, C. (Autor:in) / Balkanski, M. / Kamimura, H. / Mahajan, S.

Erschienen in:

Solid-State Materials for Advanced Technology ; 99-104

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 42

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Wang, H. X. / Zhao, J. / Jia, J. Y. | British Library Online Contents | 2007

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy

Cohen, Samuel H. | TIBKAT | 1994

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Cohen, Samuel H. | TIBKAT | 1997

Application of electrostatic force microscopy in nanosystem diagnostics

Gotszalk, T. / Grabiec, P. / Rangelow, I. W. | British Library Online Contents | 2003

Chemical Imaging by Scanning Force Microscopy

Akari, S. / Horn, D. / Keller, H. et al. | British Library Online Contents | 1995

Nach oben