Reconstruction of recombination properties of extended defects in Si: Fid-Bau Portal

Reconstruction of recombination properties of extended defects in Si

Bondarenko, I. / Kononchuk, O. / Sirotkin, V. / Yakimov, E.

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Titel:

Reconstruction of recombination properties of extended defects in Si

Beteiligte:

Bondarenko, I. (Autor:in) / Kononchuk, O. (Autor:in) / Sirotkin, V. (Autor:in) / Yakimov, E. (Autor:in) / Balkanski, M. / Kamimura, H. / Mahajan, S.

Erschienen in:

Solid-State Materials for Advanced Technology ; 270-273

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 42

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Sirotkin, V. V. / Yakimov, E. B. / Zaitsev, S. I. | British Library Online Contents | 1996

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