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Thickness dependence of refractive index for anodic aluminium oxide films

Chiu, R.-L. / Chang, P.-H.

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Titel:

Thickness dependence of refractive index for anodic aluminium oxide films

Beteiligte:

Chiu, R.-L. (Autor:in) / Chang, P.-H. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 16 ; 174-178

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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