The study of aging mechanism in ZnS:Mn thin-film electroluminescent devices grown by MOCVD: Fid-Bau Portal

The study of aging mechanism in ZnS:Mn thin-film electroluminescent devices grown by MOCVD

Wang, C. W. / Sheu, T. J. / Su, Y. K. / Yokoyama, M.

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Titel:

The study of aging mechanism in ZnS:Mn thin-film electroluminescent devices grown by MOCVD

Beteiligte:

Wang, C. W. (Autor:in) / Sheu, T. J. (Autor:in) / Su, Y. K. (Autor:in) / Yokoyama, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 113/114 ; 709-713

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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