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    Titel:

    Use of Scanning Electron Microscopy in the Detection of Flaws in Piezoelectric and Ferroelectric Crystals

    Beteiligte:

    Roshchupkin, D. V. (Autor:in) / Tkachev, S. V. (Autor:in)

    Erschienen in:

    INDUSTRIAL LABORATORY C/C OF ZAVODSKAIA LABORATORIIA ; 62 ; 501-503

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1996

    Format / Umfang:

    3 pages

    ISSN:

    0019-8447

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  607.2

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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