Positron beam analysis of semiconductor materials using a two-detector Doppler broadening coincidence system: Fid-Bau Portal

Positron beam analysis of semiconductor materials using a two-detector Doppler broadening coincidence system

Kruseman, A. C. / Schut, H. / Van Veen, A. / Mijnarends, P. E. / Clement, M. / De Nijs, J. M. M.

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Titel:

Positron beam analysis of semiconductor materials using a two-detector Doppler broadening coincidence system

Beteiligte:

Kruseman, A. C. (Autor:in) / Schut, H. (Autor:in) / Van Veen, A. (Autor:in) / Mijnarends, P. E. (Autor:in) / Clement, M. (Autor:in) / De Nijs, J. M. M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 116 ; 192-197

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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