Determination of the topmost atomic layer of NdBa~2Cu~3O~y thin films by developed total reflection angle X-ray spectroscopy (TRAXS): Fid-Bau Portal

Determination of the topmost atomic layer of NdBa~2Cu~3O~y thin films by developed total reflection angle X-ray spectroscopy (TRAXS)

Liu, Z. / Badaye, M. / Ogota, S. / Morishita, T.

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Titel:

Determination of the topmost atomic layer of NdBa~2Cu~3O~y thin films by developed total reflection angle X-ray spectroscopy (TRAXS)

Beteiligte:

Liu, Z. (Autor:in) / Badaye, M. (Autor:in) / Ogota, S. (Autor:in) / Morishita, T. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 115 ; 180-184

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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