Study of defects generated from a nitridation of GaAs surface: Fid-Bau Portal

Study of defects generated from a nitridation of GaAs surface

Park, Y. J. / Eun Kyu Kim / Il Ki Han / Min, S.-K. / O'Keeffe, P. / Mutoh, H. / Munekata, H. / Kukimoto, H.

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Titel:

Study of defects generated from a nitridation of GaAs surface

Beteiligte:

Park, Y. J. (Autor:in) / Eun Kyu Kim (Autor:in) / Il Ki Han (Autor:in) / Min, S.-K. (Autor:in) / O'Keeffe, P. (Autor:in) / Mutoh, H. (Autor:in) / Munekata, H. (Autor:in) / Kukimoto, H. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 117/118 ; 551-557

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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