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Electroreflectance investigation of trapping states at SiO~2/GaAs interfaces

Mochizuki, Y. / Mizuta, M.

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Titel:

Electroreflectance investigation of trapping states at SiO~2/GaAs interfaces

Beteiligte:

Mochizuki, Y. (Autor:in) / Mizuta, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 117/118 ; 614-618

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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