Characterization of InP �-doped with Er by FFT photoreflectance: Fid-Bau Portal

Characterization of InP -doped with Er by FFT photoreflectance

Nukeaw, J. / Matsubara, N. / Fujiwara, Y. / Takeda, Y.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Characterization of InP -doped with Er by FFT photoreflectance

Nukeaw, J. / Matsubara, N. / Fujiwara, Y. / Takeda, Y.

Characterization of InP -doped with Er by FFT photoreflectance

Nukeaw, J. / Matsubara, N. / Fujiwara, Y. / Takeda, Y.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Characterization of InP -doped with Er by FFT photoreflectance

Beteiligte:

Nukeaw, J. (Autor:in) / Matsubara, N. (Autor:in) / Fujiwara, Y. (Autor:in) / Takeda, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 117/118 ; 776-780

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

Forget, B. C. / Fournier, D. / Gusev, V. E. | British Library Online Contents | 1993

Photoreflectance of low-temperature-grown GaAs on Si--doped GaAs

Lee, W. C. / Hsu, T. M. / Chyi, J.-I. | British Library Online Contents | 1997

Photoreflectance Characterization of GaNAs/GaAs Multiple Quantum Well Structures

Lu, C.-R. / Lee, J.-R. / Chen, Y. Y. et al. | British Library Online Contents | 2002

Photoreflectance study of crystalline silicon

Moriya, H. / Kaneta, A. / Adachi, S. | British Library Online Contents | 2000

Photoreflectance investigations of GaN epitaxial layers

Sitarek, P. / Kudrawiec, R. / Sek, G. et al. | British Library Online Contents | 2001

Nach oben