Waveguide refractometry as a probe of thin film optical uniformity: Fid-Bau Portal

Waveguide refractometry as a probe of thin film optical uniformity

Potter, B. G. / Dimos, D. / Sinclair, M. B.

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Titel:

Waveguide refractometry as a probe of thin film optical uniformity

Beteiligte:

Potter, B. G. (Autor:in) / Dimos, D. (Autor:in) / Sinclair, M. B. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 12 ; 546-551

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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