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    Titel:

    Application of Weibull distribution analysis to the dielectric failure of multilayer ceramic capacitors

    Beteiligte:

    Wang, Y. (Autor:in) / Chan, Y. C. (Autor:in) / Gui, Z. L. (Autor:in) / Webb, D. P. (Autor:in) / Li, L. T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 47 ; 197-203

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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