Emission of an Edge Dislocation from a Thin-Film-Covered Crack: Fid-Bau Portal

Emission of an Edge Dislocation from a Thin-Film-Covered Crack

Qian, C.-F. / Zhang, T.-Y. / Tong, P.

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Titel:

Emission of an Edge Dislocation from a Thin-Film-Covered Crack

Beteiligte:

Qian, C.-F. (Autor:in) / Zhang, T.-Y. (Autor:in) / Tong, P. (Autor:in) / Tong, P. / Zhang, T. Y. / Kim, J. K.

Erschienen in:

Fracture and Strength of Solids - Part 1: Fracture Mechanics of Materials ; 161-166

KEY ENGINEERING MATERIALS

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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