A Tapered Double-Cantilever-Beam Specimen Designed for Constant-K Testing at Elevated Temperatures: Fid-Bau Portal

A Tapered Double-Cantilever-Beam Specimen Designed for Constant-K Testing at Elevated Temperatures

Beres, W. / Koul, A. K. / Thamburaj, R.

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Titel:

A Tapered Double-Cantilever-Beam Specimen Designed for Constant-K Testing at Elevated Temperatures

Beteiligte:

Beres, W. (Autor:in) / Koul, A. K. (Autor:in) / Thamburaj, R. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF TESTING AND EVALUATION ; 25 ; 536-542

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0090-3973

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620

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