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Characterization of strain in annealed Cu-Ni multilayers using X-ray diffraction

Chaudhuri, J. / Low, K. / Jankowski, A. F.

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Titel:

Characterization of strain in annealed Cu-Ni multilayers using X-ray diffraction

Beteiligte:

Chaudhuri, J. (Autor:in) / Low, K. (Autor:in) / Jankowski, A. F. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 33 ; 55-61

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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