Characterization of yttria-stabilized zirconia thin films deposited by electron beam evaporation on silicon substrates: Fid-Bau Portal

Characterization of yttria-stabilized zirconia thin films deposited by electron beam evaporation on silicon substrates

Hartmanova, M. / Thurzo, I. / Jergel, M. / Bartos, J. / Kadlec, F. / Zelezny, V. / Tunega, D. / Kundracik, F. / Chromik, S. / Brunel, M.

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Hartmanova, M. / Thurzo, I. / Jergel, M. / Bartos, J. / Kadlec, F. / Zelezny, V. / Tunega, D. / Kundracik, F. / Chromik, S. / Brunel, M.

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Hartmanova, M. / Thurzo, I. / Jergel, M. / Bartos, J. / Kadlec, F. / Zelezny, V. / Tunega, D. / Kundracik, F. / Chromik, S. / Brunel, M.

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Titel:

Characterization of yttria-stabilized zirconia thin films deposited by electron beam evaporation on silicon substrates

Beteiligte:

Hartmanova, M. (Autor:in) / Thurzo, I. (Autor:in) / Jergel, M. (Autor:in) / Bartos, J. (Autor:in) / Kadlec, F. (Autor:in) / Zelezny, V. (Autor:in) / Tunega, D. (Autor:in) / Kundracik, F. (Autor:in) / Chromik, S. (Autor:in) / Brunel, M. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 33 ; 969-975

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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