Homogeneity of Fe-Doped InP Wafers Using Optical Microprobes: Fid-Bau Portal

Homogeneity of Fe-Doped InP Wafers Using Optical Microprobes

Sanz, L. F. / Gonzalez, M. A. / Avella, M. / Alvarez, A. / Jimenez, J. / Fornari, R.

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Titel:

Homogeneity of Fe-Doped InP Wafers Using Optical Microprobes

Beteiligte:

Sanz, L. F. (Autor:in) / Gonzalez, M. A. (Autor:in) / Avella, M. (Autor:in) / Alvarez, A. (Autor:in) / Jimenez, J. (Autor:in) / Fornari, R. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 258/263 ; 825-830

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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