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    Titel:

    High Resolution Photoemission Spectroscopy Using Synchrotron Radiation Study of the SiO~2/-SiC(100)3x2 Interface Composition

    Beteiligte:

    Dunham, D. (Autor:in) / Soukiassian, P. (Autor:in) / Denlinger, J. D. (Autor:in) / Tonner, B. P. (Autor:in) / Rothenberg, E. (Autor:in) / Pensl, G. / Morkoc, H. / Monemar, B. / Janzen, E.

    Erschienen in:

    Silicon Carbide, III-Nitrides and Related Materials ; 391-394

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 264/268

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1998

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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