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    Titel:

    Defect characterization of II-VI compound semiconductors using positron lifetime spectroscopy

    Beteiligte:

    Tessaro, G. (Autor:in) / Mascher, P. (Autor:in) / Davies, G. / Nazare, M. H.

    Erschienen in:

    Defects in Semiconductors ICDS-19 ; 1335-1340

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 258/263

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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