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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Characterization of quantum structures by atomic-force microscopy

    Beteiligte:

    Wullner, D. (Autor:in) / Schlachetzki, A. (Autor:in) / Bonsch, P. (Autor:in) / Wehmann, H.-H. (Autor:in) / Schrimpf, T. (Autor:in) / Lacmann, R. (Autor:in) / Kipp, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 51 ; 178-187

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1998

    Format / Umfang:

    10 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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