Structural determination for H~2O adsorption on Si(001)2 x 1 using scanned-energy mode photoelectron diffraction: Fid-Bau Portal

Structural determination for H~2O adsorption on Si(001)2 x 1 using scanned-energy mode photoelectron diffraction

Franco, N. / Chrost, J. / Avila, J. / Asensio, M. C. / Mueller, C. / Dudzik, E. / Patchett, A. J. / McGovern, I. T. / Giebel, T. / Lindsay, R.

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Franco, N. / Chrost, J. / Avila, J. / Asensio, M. C. / Mueller, C. / Dudzik, E. / Patchett, A. J. / McGovern, I. T. / Giebel, T. / Lindsay, R.

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Titel:

Structural determination for H~2O adsorption on Si(001)2 x 1 using scanned-energy mode photoelectron diffraction

Beteiligte:

Franco, N. (Autor:in) / Chrost, J. (Autor:in) / Avila, J. (Autor:in) / Asensio, M. C. (Autor:in) / Mueller, C. (Autor:in) / Dudzik, E. (Autor:in) / Patchett, A. J. (Autor:in) / McGovern, I. T. (Autor:in) / Giebel, T. (Autor:in) / Lindsay, R. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 123/124 ; 219-222

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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