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    Titel:

    Scanning probe microscopy for the imaging and control of ferroelectric oxides

    Beteiligte:

    Ahn, C. H. (Autor:in) / Tybell, T. (Autor:in) / Kuffer, O. (Autor:in) / Antognazza, L. (Autor:in) / Char, K. (Autor:in) / Hammond, R. H. (Autor:in) / Beasley, M. R. (Autor:in) / Fischer, O. (Autor:in) / Triscone, J.-M. (Autor:in) / Schlom, D. G.

    Erschienen in:

    4th International Workshop on Oxide Electronics ; 173-177

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 56

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1998

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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