Structural characterization of TiO~2 thin films obtained by pulsed laser deposition: Fid-Bau Portal

Structural characterization of TiO~2 thin films obtained by pulsed laser deposition

Escobar-Alarcon, L. / Haro-Poniatowski, E. / Camacho-Lopez, M. A. / Fernandez-Guasti, M. / Jimenez-Jarquin, J. / Sanchez-Pineda, A.

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Titel:

Structural characterization of TiO~2 thin films obtained by pulsed laser deposition

Beteiligte:

Escobar-Alarcon, L. (Autor:in) / Haro-Poniatowski, E. (Autor:in) / Camacho-Lopez, M. A. (Autor:in) / Fernandez-Guasti, M. (Autor:in) / Jimenez-Jarquin, J. (Autor:in) / Sanchez-Pineda, A. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 137 ; 38-44

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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