Raman characterization of Bi~1~2SiO~2~0 thin films obtained by pulsed laser deposition: Fid-Bau Portal

Raman characterization of Bi~1~2SiO~2~0 thin films obtained by pulsed laser deposition

Alonso, J. C. / Diamant, R. / Haro-Poniatowski, E. / Fernandez-Guasti, M. / Mu�oz, G. / Camarillo, I. / Jouanne, M. / Morhange, J. F.

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Alonso, J. C. / Diamant, R. / Haro-Poniatowski, E. / Fernandez-Guasti, M. / Mu�oz, G. / Camarillo, I. / Jouanne, M. / Morhange, J. F.

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Alonso, J. C. / Diamant, R. / Haro-Poniatowski, E. / Fernandez-Guasti, M. / Mu�oz, G. / Camarillo, I. / Jouanne, M. / Morhange, J. F.

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Titel:

Raman characterization of Bi~1~2SiO~2~0 thin films obtained by pulsed laser deposition

Beteiligte:

Alonso, J. C. (Autor:in) / Diamant, R. (Autor:in) / Haro-Poniatowski, E. (Autor:in) / Fernandez-Guasti, M. (Autor:in) / Mu�oz, G. (Autor:in) / Camarillo, I. (Autor:in) / Jouanne, M. (Autor:in) / Morhange, J. F. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 109/110 ; 359-361

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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