Off resonance ac mode force spectroscopy and imaging with an atomic force microscope: Fid-Bau Portal

Off resonance ac mode force spectroscopy and imaging with an atomic force microscope

Jarvis, S. P. / Lantz, M. A. / Duerig, U. / Tokumoto, H.

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Titel:

Off resonance ac mode force spectroscopy and imaging with an atomic force microscope

Beteiligte:

Jarvis, S. P. (Autor:in) / Lantz, M. A. (Autor:in) / Duerig, U. (Autor:in) / Tokumoto, H. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 140 ; 309-313

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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