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Bossi, R. H.

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Titel:

Failure Analysis Using Microfocus X-ray Imaging

Beteiligte:

Bossi, R. H. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF TESTING AND EVALUATION ; 27 ; 137-142

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0090-3973

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620

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