Measurement of work function change with surface segregation of substrate element on a deposited film: Fid-Bau Portal

Measurement of work function change with surface segregation of substrate element on a deposited film

Yoshitake, M. / Yoshihara, K.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Measurement of work function change with surface segregation of substrate element on a deposited film

Yoshitake, M. / Yoshihara, K.

Measurement of work function change with surface segregation of substrate element on a deposited film

Yoshitake, M. / Yoshihara, K.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Measurement of work function change with surface segregation of substrate element on a deposited film

Beteiligte:

Yoshitake, M. (Autor:in) / Yoshihara, K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 146 ; 97-100

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

Yoshitake, M. / Aparna, Y. / Yoshihara, K. | British Library Online Contents | 2001

Surface segregation of Al substrate metal on Zr film surface

Lay, T. T. / Yoshitake, M. / Bera, S. | British Library Online Contents | 2003

Surface Morphology of Thin Film Deposited on Rotating Substrate by EB-PVD

Shan, Y. C. / He, X. D. / Li, M. W. et al. | British Library Online Contents | 2007

Work function measurement

British Library Online Contents | 2003

Work function of impurity-doped polycrystalline Si1-x-yGexCy film deposited by ultraclean low-pressure CVD

Shim, H. / Sakuraba, M. / Tsuchiya, T. et al. | British Library Online Contents | 2003

Nach oben