Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Characterization of nitrogen terminated silicon nanoparticles on AFI zeolite with X-ray and ultraviolet photoelectron spectroscopies

    Neue Suche nach: Choo, C.-K.
    Neue Suche nach: Sakamoto, T.
    Neue Suche nach: Tanaka, K.
    Neue Suche nach: Nakata, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Characterization of nitrogen terminated silicon nanoparticles on AFI zeolite with X-ray and ultraviolet photoelectron spectroscopies

    Neue Suche nach: Choo, C.-K.
    Neue Suche nach: Sakamoto, T.
    Neue Suche nach: Tanaka, K.
    Neue Suche nach: Nakata, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Characterization of nitrogen terminated silicon nanoparticles on AFI zeolite with X-ray and ultraviolet photoelectron spectroscopies

    Neue Suche nach: Choo, C.-K.
    Neue Suche nach: Sakamoto, T.
    Neue Suche nach: Tanaka, K.
    Neue Suche nach: Nakata, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Characterization of nitrogen terminated silicon nanoparticles on AFI zeolite with X-ray and ultraviolet photoelectron spectroscopies

    Beteiligte:

    Choo, C.-K. (Autor:in) / Sakamoto, T. (Autor:in) / Tanaka, K. (Autor:in) / Nakata, R. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 148 ; 116-125

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1999

    Format / Umfang:

    10 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Negatively charged subnanometer-sized silicon clusters and their reversible migration into AFI zeolite pores studied with X-ray photoelectron spectroscopy and ultraviolet photoelectron spectroscopy

    Choo, C.-K. / Sakamoto, T. / Tanaka, K. et al. | British Library Online Contents | 1999

    Dependence of aluminum-doped zinc oxide work function on surface cleaning method as studied by ultraviolet and X-ray photoelectron spectroscopies

    Wang, W. / Feng, Q. / Jiang, K. et al. | British Library Online Contents | 2011

    Surface Analysis of Al Alloys with X-ray Photoelectron and Auger Electron Spectroscopies

    Sakairi, Masatoshi / Sasaki, Ryo / Suzuki, Keita | British Library Online Contents | 2015

    In-doped As2Se3 thin films studied by Raman and X-ray photoelectron spectroscopies

    Azhniuk, Yuriy / Dzhagan, Volodymyr / Solonenko, Dmytro et al. | British Library Online Contents | 2019

    Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy of Solids

    Leckey, R. | Springer Verlag | 1992

    Nach oben