A transmission electron microscopy investigation of SiC films grown on SiC substrates by solid-source molecular beam epitaxy: Fid-Bau Portal

A transmission electron microscopy investigation of SiC films grown on SiC substrates by solid-source molecular beam epitaxy

Kaiser, U. / Khodos, I. / Brown, P. D. / Chuvilin, A. / Albrecht, M. / Humphreys, C. J. / Fissel, A. / Richter, W.

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Titel:

A transmission electron microscopy investigation of SiC films grown on SiC substrates by solid-source molecular beam epitaxy

Beteiligte:

Kaiser, U. (Autor:in) / Khodos, I. (Autor:in) / Brown, P. D. (Autor:in) / Chuvilin, A. (Autor:in) / Albrecht, M. (Autor:in) / Humphreys, C. J. (Autor:in) / Fissel, A. (Autor:in) / Richter, W. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 14 ; 3226-3236

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

11 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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