Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Cyclic nanoindentation and Raman microspectroscopy study of phase transformations in semiconductors

    Neue Suche nach: Gogotsi, Y. G.
    Neue Suche nach: Domnich, V.
    Neue Suche nach: Dub, S. N.
    Neue Suche nach: Kailer, A.
    Neue Suche nach: Nickel, K. G.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Cyclic nanoindentation and Raman microspectroscopy study of phase transformations in semiconductors

    Neue Suche nach: Gogotsi, Y. G.
    Neue Suche nach: Domnich, V.
    Neue Suche nach: Dub, S. N.
    Neue Suche nach: Kailer, A.
    Neue Suche nach: Nickel, K. G.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Cyclic nanoindentation and Raman microspectroscopy study of phase transformations in semiconductors

    Neue Suche nach: Gogotsi, Y. G.
    Neue Suche nach: Domnich, V.
    Neue Suche nach: Dub, S. N.
    Neue Suche nach: Kailer, A.
    Neue Suche nach: Nickel, K. G.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Cyclic nanoindentation and Raman microspectroscopy study of phase transformations in semiconductors

    Beteiligte:

    Gogotsi, Y. G. (Autor:in) / Domnich, V. (Autor:in) / Dub, S. N. (Autor:in) / Kailer, A. (Autor:in) / Nickel, K. G. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 15 ; 871-879

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2000

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    0884-2914

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Analysis of the Local Mechanical Behaviour of Ceramics and Composites through Nanoindentation/Scratching and Raman Microspectroscopy

    Chollon, G. / Moreau, R. / Fouquet, S. et al. | British Library Online Contents | 2004

    Raman microspectroscopy study of a C/c composite

    Chollon, G. / Takahashi, J. | British Library Online Contents | 1999

    Raman Microspectroscopy Study on the Ground Surface of Monocrystalline Silicon Wafers

    Zhang, Y. X. / Kang, R. K. / Guo, D. M. et al. | British Library Online Contents | 2006

    Characterization of Principal Clinker Minerals by FT-Raman Microspectroscopy

    Bonen, D. | Online Contents | 1994

    Characterization of principal clinker minerals by FT-Raman microspectroscopy

    Bonen, D. / Johnson, T.J. / Sarkar, S.L. | Tema Archiv | 1994

    Nach oben