Gap states and stability of rapidly deposited hydrogenated amorphous silicon films: Fid-Bau Portal

Gap states and stability of rapidly deposited hydrogenated amorphous silicon films

Lin, S. H. / Chan, Y. C. / Webb, D. P. / Lam, Y. W.

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Titel:

Gap states and stability of rapidly deposited hydrogenated amorphous silicon films

Beteiligte:

Lin, S. H. (Autor:in) / Chan, Y. C. (Autor:in) / Webb, D. P. (Autor:in) / Lam, Y. W. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 72 ; 197 - 199

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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