Raman spectroscopic and atomic force microscopic study of graphite ablation at 193 and 248 nm: Fid-Bau Portal

Raman spectroscopic and atomic force microscopic study of graphite ablation at 193 and 248 nm

Mechler, A. / Heszler, P. / Marton, Z. / Kovacs, M. / Szorenyi, T. / Bor, Z.

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Titel:

Raman spectroscopic and atomic force microscopic study of graphite ablation at 193 and 248 nm

Beteiligte:

Mechler, A. (Autor:in) / Heszler, P. (Autor:in) / Marton, Z. (Autor:in) / Kovacs, M. (Autor:in) / Szorenyi, T. (Autor:in) / Bor, Z. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 154-155 ; 22-28

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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