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    Titel:

    High-resolution electron microscopy observation of grain-boundary films in superplastically deformed silicon nitride

    Beteiligte:

    Zhan, G.-D. (Autor:in) / Mitomo, M. (Autor:in) / Ikuhara, Y. (Autor:in) / Sakuma, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 15 ; 1551-1555

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2000

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0884-2914

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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