Strain mapping of V-groove InGaAs/GaAs strained quantum wires using cross-sectional Atomic Force Microscopy: Fid-Bau Portal

Strain mapping of V-groove InGaAs/GaAs strained quantum wires using cross-sectional Atomic Force Microscopy

Lelarge, F. / Priester, C. / Constantin, C. / Rudra, A. / Leifer, K. / Kapon, E.

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Titel:

Strain mapping of V-groove InGaAs/GaAs strained quantum wires using cross-sectional Atomic Force Microscopy

Beteiligte:

Lelarge, F. (Autor:in) / Priester, C. (Autor:in) / Constantin, C. (Autor:in) / Rudra, A. (Autor:in) / Leifer, K. (Autor:in) / Kapon, E. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 166 ; 290-294

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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