Structural and topographical studies of SILAR-grown highly oriented PbS thin films: Fid-Bau Portal

Structural and topographical studies of SILAR-grown highly oriented PbS thin films

Kanniainen, T. / Lindroos, S. / Resch, R. / Leskela, M. / Friedbacher, G. / Grasserbauer, M.

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Titel:

Structural and topographical studies of SILAR-grown highly oriented PbS thin films

Beteiligte:

Kanniainen, T. (Autor:in) / Lindroos, S. (Autor:in) / Resch, R. (Autor:in) / Leskela, M. (Autor:in) / Friedbacher, G. (Autor:in) / Grasserbauer, M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS RESEARCH BULLETIN ; 35 ; 1045-1051

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0025-5408

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11 / 620

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