Electric Force Microscopy and Surface Potential Imaging: Fid-Bau Portal

Electric Force Microscopy and Surface Potential Imaging

Serry, F. M. / Kjoller, K. / Thorgon, J. T. / Tench, R. J. / Cook, D.

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Titel:

Electric Force Microscopy and Surface Potential Imaging

Beteiligte:

Serry, F. M. (Autor:in) / Kjoller, K. (Autor:in) / Thorgon, J. T. (Autor:in) / Tench, R. J. (Autor:in) / Cook, D. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS AND PROCESSES ; 158 ; 48-52

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0882-7958

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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