Microstructural characterization of electroconductive Si3N4-TiN composites: Fid-Bau Portal

Microstructural characterization of electroconductive Si3N4-TiN composites

Lee, B. T. / Yoon, Y. J. / Lee, K. H.

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Titel:

Microstructural characterization of electroconductive Si3N4-TiN composites

Beteiligte:

Lee, B. T. (Autor:in) / Yoon, Y. J. (Autor:in) / Lee, K. H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS LETTERS ; 47 ; 71-76

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0167-577X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1105 / 530

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