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Scanning tunneling microscopy of defects in quasiperiodically ordered surfaces

Ebert, P. / Chao, K. J. / Niu, Q. / Shih, C. K. / Plummer, E. W. / Urban, K.

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Titel:

Scanning tunneling microscopy of defects in quasiperiodically ordered surfaces

Beteiligte:

Ebert, P. (Autor:in) / Chao, K. J. (Autor:in) / Niu, Q. (Autor:in) / Shih, C. K. (Autor:in) / Plummer, E. W. (Autor:in) / Urban, K. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- A ; 294-296 ; 826-829

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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