Investigation of white etching layers on rails by optical microscopy, electron microscopy, X-ray and synchrotron X-ray diffraction: Fid-Bau Portal

Investigation of white etching layers on rails by optical microscopy, electron microscopy, X-ray and synchrotron X-ray diffraction

Osterle, W. / Rooch, H. / Pyzalla, A. / Wang, L.

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Titel:

Investigation of white etching layers on rails by optical microscopy, electron microscopy, X-ray and synchrotron X-ray diffraction

Beteiligte:

Osterle, W. (Autor:in) / Rooch, H. (Autor:in) / Pyzalla, A. (Autor:in) / Wang, L. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- A ; 303 ; 150 - 157

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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