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    Titel:

    Characterization of deep impurities in semiconductors by terahertz tunneling ionization

    Beteiligte:

    Ganichev, S. D. (Autor:in) / Ziemann, E. (Autor:in) / Yassievich, I. N. (Autor:in) / Perel, V. I. (Autor:in) / Prettl, W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 4 ; 281-284

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2001

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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