Electromigration of single-layer clusters: Fid-Bau Portal

Electromigration of single-layer clusters

Pierre-Louis, O. / Einstein, T. L.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Electromigration of single-layer clusters

Pierre-Louis, O. / Einstein, T. L.

Electromigration of single-layer clusters

Pierre-Louis, O. / Einstein, T. L.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Electromigration of single-layer clusters

Beteiligte:

Pierre-Louis, O. (Autor:in) / Einstein, T. L. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 175-176 ; 129-133

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

Yasunaga, H. / Wu, N.-J. / Yoda, S. et al. | British Library Online Contents | 1992

Electromigration Feedback Controlled Nanogaps Fabrication Based on MPTMS Adhesion Layer

Civera, Pierluigi / Demarchi, Danilo / Piccinini, Gianluca et al. | IEEE | 2008

Challenges of electromigration - Electromigration degradation mechanisms in copper dual-inlaid interconnects -

Zschech, E. / Meyer, M. A. / Grafe, M. et al. | British Library Online Contents | 2004

Dopant Electromigration in Semiconductors

Cahen, D. / Chernyak, L. | British Library Online Contents | 1997

Electromigration in ULSI interconnects

Tan, C. M. / Roy, A. | British Library Online Contents | 2007

Nach oben