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Fatigue testing of single crystalline silicon

Legros, M. / Jacques, A. / George, A.

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Titel:

Fatigue testing of single crystalline silicon

Beteiligte:

Legros, M. (Autor:in) / Jacques, A. (Autor:in) / George, A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- A ; 309-310 ; 233-236

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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