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Titel:

Bulk Studies of Defects in Semiconductors

Beteiligte:

Mascher, P. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 363/365 ; 30-34

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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