Native and Irradiation-Induced Defects in SiO~2 Structures Studied by Positron Annihilation Techniques: Fid-Bau Portal

Native and Irradiation-Induced Defects in SiO~2 Structures Studied by Positron Annihilation Techniques

Rivera, A. / Montilla, I. / Garcia, A. A. / Galindo, R. E. / Falub, C. V. / van Veen, A. / Schut, H. / de Nijs, J. M. M. / Balk, P.

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Titel:

Native and Irradiation-Induced Defects in SiO~2 Structures Studied by Positron Annihilation Techniques

Beteiligte:

Rivera, A. (Autor:in) / Montilla, I. (Autor:in) / Garcia, A. A. (Autor:in) / Galindo, R. E. (Autor:in) / Falub, C. V. (Autor:in) / van Veen, A. (Autor:in) / Schut, H. (Autor:in) / de Nijs, J. M. M. (Autor:in) / Balk, P. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 363/365 ; 64-66

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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