Annealing Effects in Hydrogenated Amorphous Silicon Layers: Fid-Bau Portal

Annealing Effects in Hydrogenated Amorphous Silicon Layers

Hempel, A. / Dabrowski, A. / Harting, M. / Hempel, M. / Knoesen, D. / Bauer-Kugelmann, W. / Kogel, G. / Triftshauser, W. / Britton, D. T.

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Titel:

Annealing Effects in Hydrogenated Amorphous Silicon Layers

Beteiligte:

Hempel, A. (Autor:in) / Dabrowski, A. (Autor:in) / Harting, M. (Autor:in) / Hempel, M. (Autor:in) / Knoesen, D. (Autor:in) / Bauer-Kugelmann, W. (Autor:in) / Kogel, G. (Autor:in) / Triftshauser, W. (Autor:in) / Britton, D. T. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 363/365 ; 463-465

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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